一般集成电路测试系统的设计.doc
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2022-07-12 01:37:01上传
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一般集成电路测试系统的设计
杨媛媛摘要:集成电路(IC)产业是知识密集、技术密集和资金密集型产业,世界集成电路产业发展迅速,技术日新月异。随着集成电路的功能以及各种参数的大量增加,集成电路测试在集成电路制造过程中就显得至关重要。为了使集成电路的功能和各项性能参数符合技术指标,在集成电路的设计、生产、成品检验和应用维护等方面需要对集成电路的性能进行测试,也需对未知型号的芯片进行功能识别和性能测试,所以对集成电路测试系统进行研究具有很大的意义。因此集成电路的测试技术随着集成电路开发和应用而飞速发展。
关键词:集成电路;测试;PMU Device Characterization
中图分类号:TP311.52 文献标识码:A 文章编号:1674-7712 (2012) 10-0033-01
一、测试系统的基本介绍
传统的集成电路的测试以SOC技术为主,SOC的复杂程度非常高,在一块芯片内不仅可能包含CPU、DSP、存储器、模拟电路等多种芯片,甚至还可能包括射频电路、光电器件、化学传感器等器件,因而SOC的测试系统,具备数字、混合信号、存储器、射频等各种测试,同时各个模块之间还不会产生相互影响。
一般的集成电路的测试系统称为ATE,测试系统主要由单片机模块(CPU)、DC(Device Characterization)测量模块和通道传输模块等组成。各个模块之间通过总线单元进行数据交换和连接。而随着现代测试技术的发展,较好测试系统组成主要的还有:由电子电路和机械硬件组成,是在同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式(pattern)生成器和其他硬件项目的集合体。
二、整个系统主要组成
(一)单片机模块(CPU)---测试系统的心脏
该模块是所有数字测试系统都含有的基本模块,是测试系统的起点。“CPU”是系统的控制中心,这里的CPU与计算机中的中央处理器不同,它由控制测试系统的计算机及数据的基本I/O通道组成。许多新的测试系统提供一个网络接口用以传输测试数据;计算机硬盘和Memory用来存储本地数据;显示器及键盘提供了测试操作员和系统的接口。
(二)DC(Device Characterization)测量模块
DC子系统包含有DPS(Device Power Supplies,器件供电单元)、RVS(Reference Voltage Supplies,参考电压源单元)、PMU(Precision Measurement Unit,精密测量单元)。
1.DPS与RVS单元
被测器件的电源管脚所需要的电流及电压是由DPS所供给的;而系统内部的管脚测试单元的比较电路以及驱动所需要的参考电压,则是由RVS单元来供给,包括了VOL、VIH、VOH、VIL四种电压设置方式。而相对比较老的测试系统中,所拥有的RVS也是相对来说比较少的,所以在测试程序时,所提供的输出、输入电平也是比较少。。一些测试系统称拥有“per pin”的结构,就是说它们可以为每一个pin独立地设置输入及输出信号的电平和时序。
2.PMU电路
PMU用于精确的DC参数测量,它把驱动电流送入被测器件而去测量电压或者为器件加上电压而去测量产生的电流。PMU的数量跟测试机的级别有关,低端的测试机
杨媛媛摘要:集成电路(IC)产业是知识密集、技术密集和资金密集型产业,世界集成电路产业发展迅速,技术日新月异。随着集成电路的功能以及各种参数的大量增加,集成电路测试在集成电路制造过程中就显得至关重要。为了使集成电路的功能和各项性能参数符合技术指标,在集成电路的设计、生产、成品检验和应用维护等方面需要对集成电路的性能进行测试,也需对未知型号的芯片进行功能识别和性能测试,所以对集成电路测试系统进行研究具有很大的意义。因此集成电路的测试技术随着集成电路开发和应用而飞速发展。
关键词:集成电路;测试;PMU Device Characterization
中图分类号:TP311.52 文献标识码:A 文章编号:1674-7712 (2012) 10-0033-01
一、测试系统的基本介绍
传统的集成电路的测试以SOC技术为主,SOC的复杂程度非常高,在一块芯片内不仅可能包含CPU、DSP、存储器、模拟电路等多种芯片,甚至还可能包括射频电路、光电器件、化学传感器等器件,因而SOC的测试系统,具备数字、混合信号、存储器、射频等各种测试,同时各个模块之间还不会产生相互影响。
一般的集成电路的测试系统称为ATE,测试系统主要由单片机模块(CPU)、DC(Device Characterization)测量模块和通道传输模块等组成。各个模块之间通过总线单元进行数据交换和连接。而随着现代测试技术的发展,较好测试系统组成主要的还有:由电子电路和机械硬件组成,是在同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式(pattern)生成器和其他硬件项目的集合体。
二、整个系统主要组成
(一)单片机模块(CPU)---测试系统的心脏
该模块是所有数字测试系统都含有的基本模块,是测试系统的起点。“CPU”是系统的控制中心,这里的CPU与计算机中的中央处理器不同,它由控制测试系统的计算机及数据的基本I/O通道组成。许多新的测试系统提供一个网络接口用以传输测试数据;计算机硬盘和Memory用来存储本地数据;显示器及键盘提供了测试操作员和系统的接口。
(二)DC(Device Characterization)测量模块
DC子系统包含有DPS(Device Power Supplies,器件供电单元)、RVS(Reference Voltage Supplies,参考电压源单元)、PMU(Precision Measurement Unit,精密测量单元)。
1.DPS与RVS单元
被测器件的电源管脚所需要的电流及电压是由DPS所供给的;而系统内部的管脚测试单元的比较电路以及驱动所需要的参考电压,则是由RVS单元来供给,包括了VOL、VIH、VOH、VIL四种电压设置方式。而相对比较老的测试系统中,所拥有的RVS也是相对来说比较少的,所以在测试程序时,所提供的输出、输入电平也是比较少。。一些测试系统称拥有“per pin”的结构,就是说它们可以为每一个pin独立地设置输入及输出信号的电平和时序。
2.PMU电路
PMU用于精确的DC参数测量,它把驱动电流送入被测器件而去测量电压或者为器件加上电压而去测量产生的电流。PMU的数量跟测试机的级别有关,低端的测试机
一般集成电路测试系统的设计
